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7.1. SAED simulation ja
seto edited this page Mar 23, 2026
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SAED (Selected Area Electron Diffraction) シミュレーションは、平行ビームによる電子回折パターンを計算します。7. Diffraction simulator-ja の基本モードです。
平行な電子ビームが薄い試料に入射した際の回折パターンをシミュレーションします。エワルド球と逆格子点の幾何学的関係に基づいて回折スポットの位置と強度が計算されます。
最も高速な計算モードです。各逆格子点とエワルド球の距離（励起誤差 s）のみから強度を推定します。結晶構造因子は考慮しません。
- 回折スポットの位置の確認に適しています
- 定性的な強度比較が可能
結晶構造因子 |F(g)| を考慮した運動学的計算です。
- 強度は |F(g)|² に比例
- 励起誤差による減衰も考慮
- 消滅則が正しく反映されます
- 薄い試料や弱い回折に適しています
ブロッホ波法（ベーテ法）による厳密な動力学計算です。電子線回折でのみ使用可能。
- 多重散乱を正確に計算
- 試料の厚さに依存した強度変化を再現
- 厚い試料や強い回折に必要
- ブロッホ波数: 計算精度と速度のバランス。通常 50–200 で十分。高精度計算では 500 以上
- 試料厚さ: nm 単位で指定
逆格子点を半径 R の球として扱います。エワルド球との断面が円として描画されます。エワルド球から完全に離れた逆格子点は表示されません。
逆格子点を σ = R の3次元ガウシアン分布として扱います。エワルド球との断面が2次元ガウシアンとして描画されます。すべての逆格子点が（強度に応じて）表示されます。
| パラメータ | 説明 |
|---|---|
| Opacity | スポットの透明度 (0–1) |
| Radius | 逆格子点の仮想半径 R。大きくするとエワルド球から遠い点も表示 |
| Brightness | ガウシアンモードでの輝度補正 |
| Colour scale | グレースケール or Cold-Warm |
| Log scale | 強度の対数表示。強度差の大きいパターンで有用 |
| Spot colour | 回折スポットの描画色 |
ツールバーから以下のラベルを選択できます：
| ラベル | 表示内容 |
|---|---|
| Index | ミラー指数 (hkl) |
| d | 面間隔 d (Å) |
| Distance | 検出器上のスポット間距離 |
| Excit. Err | 励起誤差 s |
| |Fg| | 構造因子の絶対値 |